網站首頁
關于我(wǒ)們
»
公司簡介
生(shēng)産基地
榮譽資(zī)質
新聞動态
掃描顯微鏡
»
全自動明場掃描顯微鏡
全自動正置熒光掃描顯微鏡
病理切片掃描顯微鏡
全自動金相掃描顯微鏡
病理切片掃描顯微鏡
半導體(tǐ)設備
»
CCD芯片自動計數機
芯粒外(wài)觀包裝檢查機
Wafer（晶圓片）厚度接觸式自動測量機
Wafer（晶圓片）厚度非接觸式自動測量機
掃描平台
»
80系列生(shēng)物(wù)顯微鏡掃描平台
60系列生(shēng)物(wù)顯微鏡掃描平台
80系列金相顯微鏡掃描平台
顯微鏡電動Z軸
技術與服務
»
切片掃描服務
藻類鑒定服務
下(xià)載中(zhōng)心
聯系我(wǒ)們
»
中(zhōng)文簡體(tǐ)
English
中(zhōng)文簡體(tǐ)
語言
導航
English
中(zhōng)文簡體(tǐ)
網站首頁
關于我(wǒ)們
公司簡介
生(shēng)産基地
榮譽資(zī)質
新聞動态
掃描顯微鏡
全自動明場掃描顯微鏡
全自動正置熒光掃描顯微鏡
病理切片掃描顯微鏡
全自動金相掃描顯微鏡
病理切片掃描顯微鏡
半導體(tǐ)設備
CCD芯片自動計數機
芯粒外(wài)觀包裝檢查機
Wafer（晶圓片）厚度接觸式自動測量機
Wafer（晶圓片）厚度非接觸式自動測量機
掃描平台
80系列生(shēng)物(wù)顯微鏡掃描平台
60系列生(shēng)物(wù)顯微鏡掃描平台
80系列金相顯微鏡掃描平台
顯微鏡電動Z軸
技術與服務
切片掃描服務
藻類鑒定服務
下(xià)載中(zhōng)心
聯系我(wǒ)們
當前位置：
首頁
>
半導體(tǐ)設備
>
Wafer（晶圓片）厚度非接觸式自動測量機
Wafer（晶圓片）厚度非接觸式自動測量機
共
0
頁
0
條
Wafer（晶圓片）厚度非接觸式自動測量機
CCD芯片自動計數機
芯粒外(wài)觀包裝檢查機
Wafer（晶圓片）厚度接觸式自動測量機
Wafer（晶圓片）厚度非接觸式自動測量機
合作咨詢
在線客服
服務電話(huà)
0592-5623983
關閉
